薄膜電阻及厚度測試設(shè)備

薄膜電阻及厚度測試設(shè)備采用渦流檢測技術(shù)，可按照需求配置單個或多個針對不同樣品的高敏感探頭進行測量，并通過顯示模塊輸出。檢測最終輸出結(jié)果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(dǎo)(Mhos/sq），厚度(單位：um）等。

渦流技術(shù)
渦流檢測儀的基本要素是感應(yīng)探頭。通過交流電流產(chǎn)生一個磁場，當磁場與導(dǎo)電材料接觸時，則會在該材料中感應(yīng)到渦流。測試材料的特性可產(chǎn)生一系列*結(jié)果，可用來測量材料的薄膜電阻。 評估對象僅限與材料接觸的磁場。此磁場相對較弱，不會產(chǎn)生熱能，因此不會破壞材料。渦流技術(shù)相比接觸式測量法（例如四探針測試法）有著諸多優(yōu)勢,與此同時：
不破壞材料
讀取絕緣層內(nèi)的導(dǎo)電層
采樣頻率高達數(shù)萬。

典型用途
防靜電/導(dǎo)電薄膜
天線
汽車
電池
裝飾薄膜/紙張
顯示器
花線電路和柔性電路板
電鍍
玻璃窗
金屬化電容用箔
金屬化標簽
微波感應(yīng)器
包裝
雷達吸波材料
反射和反光材料
半導(dǎo)體
太陽能
透明導(dǎo)電膜